技術支持 | Technical Support

• 技術指標(6).老化特性
• 老化

• 晶體諧振頻率和諧振電阻都隨時間的延續(xù)而變化，這就是所說的老化，人們最關注的是諧振頻率隨時間的變化。

• 對AT切晶體來說，在晶體使用初期，老化主要受元件內部應力釋放影響，頻率向升高方向變化，而后期受電極膜吸附的影響，其頻率按對數(shù)關系向降低方向變化，隨時間增加變化量逐漸降低，見圖4。為減小出廠時的老化率，生產(chǎn)商大都對產(chǎn)品進行了預老化處理。

• 對老化指標，一般都規(guī)定產(chǎn)品的老化水平,而它并非明確的試驗條件,這種“水平”，是通過生產(chǎn)有計劃的抽檢而獲得的。可能某些個別晶體元件比規(guī)定水平會差，這是允許的。

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• 目前電阻焊密封的石英晶體元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下，對于普通精度產(chǎn)品（頻差大于±30×10-6）的應用來說，老化指標對元件工作影響并不是很重要，對于小公差（±10×10-6）以下）的晶體元器件來說，老化是需要關注的指標。

• 標準的測試方法是在85℃/30天不帶電(IEC1178)條件下的老化率,由于測試時間大長也有采用105℃/7天的加速老化的測試方法,后一種方法需要的時間較短(美軍標MIL-C-3098G ).