技術支持 | Technical Support
- 石英晶體元器件檢測和試驗標準
SJ/Z9154.1-87(IEC444-1(1986))用π網絡零相位法測量石英晶體元件參數 第一部分，頻率和諧振電阻測量
SJ/Z9154.2-87(IEC444-2)(1980)用π網絡零相位法測量石英晶體元件參數 第二部分，相位偏置法測量動態電容
SJ/Z9154.3-87(IEC444-3)用π網絡零相位法測量石英晶體元件參數 第三部分，利用有并電容C0補償的π型網絡相位法測量頻率達200MHz的石英晶體元件兩端網絡參數的測量方法
SJ/T11212-1999 (IEC444-69(1995)) 石英晶體元件參數測量 第6部分 激勵電平相關性（DLD） 測量
IEC68-2 環境試驗 第二部分 各種試驗
GB2423 電工電子產品環境試驗標準
GJB360A-1996（MIL-STD-202F）電子及電氣元件試驗方法
MIL-STD-883 微電子器件試驗方法和程序